[发明专利]一种白光中子源带电粒子探测谱仪有效
申请号: | 201811058066.0 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN109459454B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 孙志嘉;周良;樊瑞睿;王艳凤;杨桂安;许虹;夏远光;唐彬;滕海云;周健荣;王征;陈元柏;周晓娟;修青磊 | 申请(专利权)人: | 东莞中子科学中心 |
主分类号: | G01N23/22 | 分类号: | G01N23/22;G01T1/36 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 李小焦;郭燕 |
地址: | 523808 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请公开了一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器。本申请的带电粒子探测器包括ΔE‑E探测器和电离室探测器;ΔE‑E探测器为复合式气体‑固体探测器,由相互独立的小型多丝正比室气体探测器和碘化铯固体探测器组成,采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗;电离室探测器采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或聚酯薄膜粒子束窗。本申请的带电粒子探测器,其ΔE‑E探测器采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗,既可让带电粒子容易透过,又能耐5000Pa压力差不破裂。电离室探测器粒子束窗采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或PET,不仅能使带电粒子极容易透过,且能承受1atm压力。 | ||
搜索关键词: | 一种 白光 中子源 带电 粒子 探测 | ||
【主权项】:
1.一种用于白光中子源带电粒子探测谱仪的带电粒子探测器,其特征在于:包括ΔE‑E探测器和电离室探测器;所述ΔE‑E探测器为复合式气体‑固体探测器,由相互独立的小型多丝正比室气体探测器和碘化铯固体探测器组成,所述ΔE‑E探测器采用0.5μm厚聚乙烯薄膜粒子束窗;所述电离室探测器采用8μm厚聚酰亚胺薄膜或聚酯薄膜粒子束窗。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东莞中子科学中心,未经东莞中子科学中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811058066.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。