[发明专利]一种基于像素刻划的偏振相机的校正系统在审
申请号: | 201811058236.5 | 申请日: | 2018-09-11 |
公开(公告)号: | CN109120920A | 公开(公告)日: | 2019-01-01 |
发明(设计)人: | 孙翯;孙雪倩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00;G06T7/80 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹卫良 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于像素刻划的偏振相机的校正系统。该校正系统包括:偏振相机定标系统和偏振相机校正系统。所述偏振相机定标系统通过建立像素刻划的偏振相机的仪器矩阵定标数学模型后,采用最小二乘法试验进行定标,得到定标参数;所述偏振相机校正系统根据所述偏振相机定标系统所得的定标参数与通过校正算法实时输出校正图像。本发明公开的校正系统具有输出图像精度更高的优点。 | ||
搜索关键词: | 偏振相机 校正系统 定标 定标系统 刻划 像素 最小二乘法 实时输出 输出图像 数学模型 校正算法 校正图像 仪器矩阵 正系统 试验 | ||
【主权项】:
1.一种基于像素刻划的偏振相机的校正系统,其特征在于,包括:偏振相机定标系统和偏振相机校正系统;所述偏振相机定标系统通过建立像素刻划的偏振相机的仪器矩阵定标数学模型后,采用最小二乘法试验进行定标,得到定标参数;所述偏振相机校正系统根据所述偏振相机定标系统所得的定标参数与通过校正算法实时输出校正图像。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811058236.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。