[发明专利]高分辨率巴克豪森噪声与增量磁导率扫查成像系统在审

专利信息
申请号: 201811058264.7 申请日: 2018-09-11
公开(公告)号: CN109407018A 公开(公告)日: 2019-03-01
发明(设计)人: 刘秀成;尚万里;王丽婷;王楠;何存富;吴斌 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01N27/72;G01N27/90;G01L5/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了高分辨率巴克豪森噪声与增量磁导率扫查成像系统,由上位机控制多功能电磁检测装置对铁磁性块体或磁性薄膜材料进行局域化巴克豪森噪声、涡流和增量磁导率等特征磁信号检测,上位机中的软件能从检测的特征磁信号中提取至少十四项磁参量;采用三轴运动平台搭载电磁检测装置中的磁头对铁磁性块体或磁性薄膜材料进行平面扫查,得到磁参量的空间分布成像结果;改变磁头采用的磁芯末端空气间隙宽度0.2~10μm,磁头的横向分辨率可在10~100μm范围内进行调整。通过测得试件表面多种磁参量的分布状态,实现磁特性成像,以反映材料内部微观结构和残余应力的分布状态。
搜索关键词: 磁头 增量磁导率 磁参量 扫查 噪声 磁性薄膜材料 成像系统 分布状态 高分辨率 铁磁性 块体 涡流 电磁检测装置 三轴运动平台 磁信号检测 多功能电磁 横向分辨率 上位机控制 材料内部 残余应力 成像结果 磁芯末端 检测装置 空间分布 空气间隙 试件表面 微观结构 磁特性 局域化 上位机 成像 检测
【主权项】:
1.高分辨率巴克豪森噪声与增量磁导率扫查成像系统,其特征在于:双路信号激励电路(1)与功率放大器(2)连接,励磁线圈(3)缠绕在励磁磁芯(13)上并连接到功率放大器(2),被测试件(8)固定于励磁磁芯(13)极靴之间的载物台(9)中,磁头(7)与信号调整电路(5)连接,磁头(7)主要由磁芯(18)、检测线圈(14)、感应线圈(17)、弹簧(15)和传感器外壳(16)组成,磁头(7)由磁芯(18)、检测线圈(14)、感应线圈(17)、弹簧(15)和传感器外壳(16)组成,弹簧(15)和磁芯(18)安装在传感器外壳(16)的中间,磁芯(18)位于弹簧(15)下方;磁芯(18)为不闭合的框架结构,框架结构的不闭合处设有外凸的对称钩状结构,两钩状结构的尖端间存在小于1μm的空气气隙;检测线圈(14)和感应线圈(17)缠绕于磁芯(18)上,将磁头(7)和霍尔元件(4)分别放置于被测试件(8)的上下表面,霍尔元件(4)和信号调整电路(5)与多通道数据采集卡(6)连接,三轴运动平台(12)与运动控制平台(11)连接,同时把多通道数据采集卡(6)和运动控制平台(11)连接到上位机(10)。
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