[发明专利]一种基于纳米波技术的形态监测方法在审
| 申请号： | 201811068257.5 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109222983A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 吴子俊 | 申请（专利权）人： | 上海宇佑船舶科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/11 | 分类号： | A61B5/11 |
| 代理公司： | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人： | 宋缨;钱文斌 |
| 地址： | 201306 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于纳米波技术的形态监测方法，包括以下步骤：确定参考目标，并向参考目标发送纳米波信号；用两根位置不同的接收天线接收经过目标反射后的回波信号，得到波程差率；将发送的纳米波信号转换为用于检测最终目标位置的角度发射纳米波信号；接收新的回波信号，并根据所述波程差率得到最终目标的位置和方位角；根据最终目标的位置和方位角判断目标形态。本发明能够在保护人员隐私的情况下判断人员的形态。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米波 参考目标 回波信号 形态监测 方位角 程差 发送 接收天线 目标反射 目标位置 目标形态 信号转换 隐私 发射 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于纳米波技术的形态监测方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)确定参考目标，并向参考目标发送纳米波信号；(2)用两根位置不同的接收天线接收经过参考目标反射后的回波信号，得到波程差率；(3)将发送的纳米波信号转换为用于检测最终目标位置的探测角度，再发射纳米波信号；(4)接收新的回波信号，并根据所述波程差率得到最终目标的位置和方位角；(5)根据最终目标的位置和方位角判断目标形态。
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