[发明专利]一种NAND FLASH类芯片测试系统在审
| 申请号： | 201811068329.6 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109448776A | 公开（公告）日： | 2019-03-08 |
| 发明（设计）人： | 罗朝凤;姜胜林;赵俊;张薄军;范旭阳 | 申请（专利权）人： | 深圳市卓精微智能机器人设备有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 李想 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种NAND FLASH类芯片测试系统，包括主控CPU、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、ICC测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块和NAND FLASH芯片；主控CPU用于实现对整个系统所有功能模块的控制；显示模块用于实现显示NAND FLASH类芯片测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息。本发明所述的一种NAND FLASH类芯片测试系统，由各种小型模块和机械手自动化设备组成，整体成本比较低，在实际的生产过程中，解决了通用测试设备自身体积大、控制程序繁琐、成本高等方面的不足，提高了芯片测试系统生产测试的灵活性，整个成本低，而且操作方便，生产周期短，极大的提高生产效率，带来更好的使用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片测试系统 显示模块 主控CPU 控制程序 参数测试模块 电平转换模块 功能测试模块 功能选择模块 通用测试设备 生产周期 自动化设备 机械手 测试模块 生产测试 生产过程 生产效率 相关信息 小型模块 整体成本 芯片 检测 | ||
【主权项】：
1.一种NAND FLASH类芯片测试系统，其特征在于，包括主控CPU、TTL接口模块、显示模块、功能选择模块、OS参数测试模块、ICC测试模块、FLASH功能测试模块、电平转换模块和NAND FLASH芯片；主控CPU用于实现对整个系统所有功能模块的控制；显示模块用于实现显示NAND FLASH类芯片测试系统工作过程中检测到的芯片相关信息；功能选择模块用于实现实际测试生产过程中NAND FLASH类芯片测试系统测试、调试及控制；TTL接口模块用于实现NAND FLASH类芯片测试系统与机械手或与分选机设备之间的信息连接；系统电源模块用于实现NAND FLASH类芯片测试系统检测过程中所有模块提供工作所需的电源电压；OS参数测试模块用于测试NAND FLASH类芯片IC管脚上的保护二极管是否完好；ICC测试模块用于即就是测试NAND FLASH类芯片的实际工作电流大小；FLASH功能测试模块用于测试NAND FLASH类芯片内部运算、读写等功能；电平转换模块用于实现本系统能兼容不同电压标准的NAND FLASH芯片类型。
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