[发明专利]一种eMMC FLASH类芯片测试系统

摘要

本发明公开了一种eMMC FLASH类芯片测试系统，该系统包括：CPU模块、显示模块、功能选择模块，RS232接口模块、OS测试模块、ICC测试模块、FLASH功能测试模块与电源模块；CPU模块主要实现对整个系统所有功能模块的控制；显示模块主要用于显示生产过程中的测试数据，显示内容包含生产测试的产品型号，实际的参数参数，分Bin情况。本发明所述的一种eMMC FLASH类芯片测试系统，主要针对eMMC FLASH类芯片的测试生产，针对现有生产需求特点开发，具有成本低，效率高，操作方便，生产周期短等特点，可根据实际情况做小的改动，可满足实际的测试生产需求，同传统的大型测试设备相比，具有较高的性价比，降低了企业的生产成本，提高了利润，带来更好的使用前景。

主权项

1.一种eMMC FLASH类芯片测试系统，其特征在于，该系统包括：CPU模块、显示模块、功能选择模块，RS232接口模块、OS测试模块、ICC测试模块、FLASH功能测试模块与电源模块；所述CPU模块，主要实现对整个系统所有功能模块的控制；所述显示模块，主要用于显示生产过程中的测试数据，显示内容包含：生产测试的产品型号，实际的参数参数，分Bin情况，良品百分比等；所述功能选择模块，主要用来实现实际测试生产过程中测试调试及控制；所述RS232接口模块，主要用与机械手或分选机进行通讯，实现批量生产过程中的好坏分类；所述OS测试模块，即测试IC管脚上的保护二极管是否完好，管脚上的保护二极管主要作用是保护管脚不被正向或反向高压击穿而损坏，测试时通过向测试管脚施加电流测试电压实现；所述ICC测试模块，即就是测试eMMC FLASH芯片8的实际工作电流大小，用于评估芯片工作时的功率损耗；所述FLASH功能测试模块，主要通过FPGA内部的软件算法实现，主要测试的内容包含：芯片ID；芯片擦除功能及时间；芯片空检查功能及时间；芯片读写功能及时间；芯片校验功能及时间；其他功能测试；所述电源模块，为系统提供工作所需的电源电压，这里采用的线性电源AS1117系列为系统供电。