[发明专利]灭弧室触头结构及确定合成试验回路暂态电压波形的方法有效
| 申请号： | 201811070284.6 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109326485B | 公开（公告）日： | 2020-03-17 |
| 发明（设计）人： | 翟小社;姚晓飞 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | H01H33/664 | 分类号： | H01H33/664 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 徐文权 |
| 地址： | 710049 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种灭弧室触头结构及确定合成试验回路暂态电压波形的方法，包括第一触头及第二触头，其中，第一触头的上表面上设置有凹槽，凹槽底部的中间位置处设置有锥形放电结构，第一触头的上表面与第二触头的下表面相贴合，所述锥形放电结构的顶部与第二触头的下表面之间有间隙，该触头结构及方法能够有效地降低真空灭弧室的截流水平，TRV的检测结果较为准确。 | ||
| 搜索关键词： | 灭弧室触头 结构 确定 合成 试验 回路 电压 波形 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于TRV检测的真空灭弧室触头结构，其特征在于，包括第一触头(1)及第二触头(2)，其中，第一触头(1)的上表面上设置有凹槽，凹槽底部的中间位置处设置有锥形放电结构(3)，第一触头(1)的上表面与第二触头(2)的下表面相贴合，所述锥形放电结构(3)的顶部与第二触头(2)的下表面之间有间隙。
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