[发明专利]一种光学投影模组在审
| 申请号： | 201811070668.8 | 申请日： | 2018-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN109031874A | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 王小明 | 申请（专利权）人： | 深圳阜时科技有限公司 |
| 主分类号： | G03B21/20 | 分类号： | G03B21/20;G01N21/95 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518055 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于光学和电子技术领域，提供了一种光学投影模组，可检测所使用的光学元件的完整性。所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元。所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器。所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束。所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性。所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。 | ||
| 搜索关键词： | 光学元件 感测器 光学投影 检测光束 模组 检测 光学特性 发光体 处理器 感测 电子技术领域 可检测 瑕疵 反射 光源 申请 | ||
【主权项】：
1.一种光学投影模组，可检测所使用的光学元件的完整性，所述光学投影模组包括光源、光学元件及检测单元，所述检测单元包括检测发光体、感测器及处理器，所述检测发光体向被测光学元件发出检测光束，所述感测器感测经被测光学元件反射回来的检测光束的光学特性，所述处理器与感测器相连接并根据所述感测器所感测到的检测光束的光学特性来判断被测光学元件是否存在瑕疵。
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