[发明专利]一种位置测量传感器和位置测量系统有效

专利信息
申请号: 201811073309.8 申请日: 2018-09-14
公开(公告)号: CN109099841B 公开(公告)日: 2020-01-31
发明(设计)人: 薛金来;聂婷;毕国玲;梁怀丹;张星祥;陈长征 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01C1/00
代理公司: 44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 曹卫良
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供了一种位置测量传感器包括第一框架、第一PSD探测器、第一激光器和半反半透分束镜,所述第一PSD探测器、所述第一激光器和所述半反半透分束镜均设置在所述第一框架上,所述半反半透分束镜位于所述第一PSD探测器的前端,射向所述第一PSD探测器的激光,一部分透过所述半反半透分束镜射向所述第一PSD探测器,另一部分被所述半反半透分束镜反射出去;本发明还提供了一种基于上述位置测量传感器的位置测量系统,能够实现非接触、高精度实时测量。
搜索关键词: 半反半透分束镜 位置测量传感器 位置测量系统 激光器 实时测量 非接触 反射 激光
【主权项】:
1.一种位置测量系统,其特征在于,包括第一基座和第二基座,所述第一基座上设置有位置测量传感器,所述位置测量传感器,包括第一框架、第一PSD探测器、第一激光器和半反半透分束镜,所述第一PSD探测器、所述第一激光器和所述半反半透分束镜均设置在所述第一框架上,所述半反半透分束镜位于所述第一PSD探测器的前端,射向所述第一PSD探测器的激光,一部分透过所述半反半透分束镜射向所述第一PSD探测器,另一部分被所述半反半透分束镜反射出去;/n所述第一框架安装在所述第一基座上,所述第二基座上安装有第二框架和第三框架,所述第二框架上设置有与第一PSD探测器对应的第二激光器和与所述第一激光器对应的第二PSD探测器,所述第三框架上设置有第三PSD探测器;所述第二激光器发出射向第一PSD探测器的第二激光,所述第一激光器发出射向第二PSD探测器的第一激光,所述第二PSD探测器接收所述第一激光,所述第二激光的一部分透过所述半反半透分束镜射向所述第一PSD探测器并被所述第一PSD探测器接收,所述第二激光的另一部分被所述半反半透分束镜反射并射向第三PSD探测器,所述第三PSD探测器接收被所述半反半透分束镜反射的第二激光;/n所述第一PSD探测器表面设置有第一窄带滤波片。/n
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