[发明专利]一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法在审
| 申请号： | 201811086361.7 | 申请日： | 2018-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN109241326A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 余琨;张志勇;薛来熙;刘远华;王华;顾春华 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F16/58 | 分类号： | G06F16/58;G06K17/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 徐颖 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，通过图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，电脑对采集图像进行识别、核对、对比后，将成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与实际被测成品电路一一对应。解决了半导体成品电路自动测试数据与实际被测成品电路无法一一对应的问题，实现所有成品电路测试数据可追溯。降低混料率，提高生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 成品电路 测试区域 测试数据 自动测试 半导体 图像采集装置 出料区域 待测区域 溯源 上表面图像 采集图像 激光打标 命名规则 生产效率 依次排列 混料 加装 核对 追溯 采集 记录 电脑 成功 | ||
【主权项】：
1.一种半导体成品电路自动测试数据溯源方法，其特征在于，待测区域、测试区域、出料区域依次排列，在待测区域和测试区域之间、测试区域和出料区域之间加装图像采集装置，将被测成品电路从料盘区域放置到待测区域，此时通过加装在待测区域和测试区域之间的图像采集装置对被测成品电路的上表面图像进行采集，然后将被测成品电路送入测试区域进行测试，同时将采集的第一图像传入电脑，测试完成后将被测成品电路从测试区域取走放置到出料区域，此时通过加装在测试区域和出料区域之间的图像采集装置再一次对被测成品电路的上表面图像进行采集，将采集的第二图像传入电脑，电脑对第一、第二图像进行识别、核对、对比后，对成功识别的编号进行记录，并以获取的激光打标编号按命名规则将编号代入，对测试数据命名，实现测试数据与实际被测成品电路一一对应。
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