[发明专利]一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法

摘要

本发明公开了一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法，将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上，一个样品用于电导率测试，另一个样品用于温度测试，从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试。本发明提出采用两个完全相同的试验样品置于温控试验台，使其处于相同温度状态，一个样品用于电导率测试，另一个样品用于温度测试，解决了介质材料电导率和温度测试信号相互干扰问题，从而为不同温度下介质材料电导率测试提供一条更为方便、易实现的试验方法。

主权项

1.一种温度对空间介质材料电导率影响的测试方法，其特征在于，将两个完全相同的测试样品置于温控试验台上，一个样品用于电导率测试，另一个样品用于温度测试，从而实现温度对空间介质材料电导率影响的测试，步骤如下：(1)、准备两个完全相同的测试样品即1#样品和2#样品及电极装置，并放置于温控试验台中心对称位置；(2)、调节温控试验台温度，测试两个样品温度的均衡性；如果两个样品温度一致，则认为两个样品温度具有均衡性，进行步骤(3)；否则进行步骤(1)；(3)、将1#样品用于电导率测试，2#样品用于温度测试，调节温控试验台温度完成不同温度下空间介质材料电导率的测试。