[发明专利]变温介电常数精密测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201811091857.3 | 申请日： | 2018-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109164303A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 戈加震;熊仁根 | 申请（专利权）人： | 东南大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 钱超 |
| 地址： | 210000 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请公开了变温介电常数精密测量装置及测量方法，主采用金属结构的电极线引出器和密闭式的试样室套筒结构，引出器由密闭试样室的热阻段和装有电极装置出线端的散热器构成，本装置能与多种电桥型精密阻抗分析仪配合使用，在‑180℃到200℃温度区间内，在20 Hz到1M Hz的频率范围内和可控的气氛条件下进行介电常数、介电损耗以及其他有关电学性质的精密测量；它能有效地防止样品测试端处温度的变化和外界电磁场对测量精确度的干扰，同时具有结构简单，制作简便，价格便宜的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 介电常数 精密测量装置 测量 试样室 变温 散热器 电极线引出器 外界电磁场 阻抗分析仪 电极装置 电学性质 介电损耗 金属结构 精密测量 气氛条件 套筒结构 温度区间 样品测试 可控的 密闭式 引出器 有效地 密闭 电桥 热阻 精密 出线 申请 制作 | ||
【主权项】：
1.变温介电常数精密测量装置，其特征在于：所述变温介电常数精密测量装置具有密闭式的试样套筒结构，由密闭试样室(1)、管状热阻段(2)、散热器(3)、散热器盖板(4)、管状热阻段固定装置(5)、引出线(6)、温度检测器(7)、电极引出线端(8)、温度检测器引出端(9)、待测样品电极(10)和温控装置(11)组成，密闭试样室(1)一端和散热器(3)相连，密闭试样室(1)另一端设在温控装置(11)内部，散热器(3)上设有散热器盖板(4)，电极引出线端(8)和温度检测器引出端(9)设在散热器盖板(4)上，管状热阻段固定装置(5)设在散热器(3)内，管状热阻段(2)设在密闭试样室(1)内部，所述管状热阻段(2)末端与管状热阻段固定装置(5)相连，所述引出线(6)和温度检测器(7)设在管状热阻段(2)内，所述待测样品电极(10)的引出线(6)从密闭试样室(1)内的管状热阻段(2)中穿过，接到盖板(4)的电极引出线端(8)，所述温度检测器(7)也从管状热阻段(2)中穿过，接到盖板(4)的温度检测器引出端(9)。
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