[发明专利]存储器结构有效
| 申请号： | 201811092463.X | 申请日： | 2018-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109037225B | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 夏志良;陈俊;鲍琨;董金文;华文宇;靳磊;江宁;刘峻 | 申请（专利权）人： | 长江存储科技有限责任公司 |
| 主分类号： | H10B43/20 | 分类号： | H10B43/20;H10B43/35 |
| 代理公司： | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人： | 董琳 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种存储器结构，包括：衬底层，所述衬底层具有相对的正面和背面，所述衬底层内形成有导电区域，所述导电区域的顶部朝向所述衬底层的正面，所述导电区域的底部朝向所述衬底层的背面，所述导电区域包括：位于所述导电区域底部的屏蔽层，以及位于所述屏蔽层上方的N型掺杂阱；存储层，所述存储层位于所述衬底层的正面上；隔离结构，贯穿所述衬底层，且位于所述导电区域边缘，包围所述导电区域设置，用于隔离所述导电区域与所述隔离结构外围的衬底层。所述存储器的性能得到提高。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 结构 | ||
【主权项】：
1.一种存储器结构，其特征在于，包括：衬底层，所述衬底层具有相对的正面和背面，所述衬底层内形成有导电区域，所述导电区域的顶部朝向所述衬底层的正面，所述导电区域的底部朝向所述衬底层的背面，所述导电区域包括：位于所述导电区域底部的屏蔽层，以及位于所述屏蔽层上方的N型掺杂阱；存储层，所述存储层位于所述衬底层的正面上；隔离结构，贯穿所述衬底层，且位于所述导电区域边缘，包围所述导电区域设置，用于隔离所述导电区域与所述隔离结构外围的衬底层。
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