[发明专利]滤纸片X射线荧光光谱测定铁红中杂质元素含量的方法

摘要

滤纸片X射线荧光光谱测定铁红中杂质元素含量的方法，其测定步骤如下：（1）制备系列标准样片溶液；（2）制备待测样片溶液；（3）系列标准样片及待测样片制作；（4）系列标准样片及待测样片平整化；（5）通过系列标准样片获得校准曲线；（6）根据校准曲线获得铁红样品中待测杂质元素含量。本方法操作简单，测定速度快，耗酸少，废液处理容易，且测定精确。

主权项

1.滤纸片X射线荧光光谱测定铁红中杂质元素含量的方法，其特征在于，测定步骤如下：（1）制备系列标准样片溶液：A，取待测杂质元素的氧化物，酸溶解后，形成含待测杂质元素离子的溶液；B，取1份氧化铁，酸溶解后，形成1份含铁离子的溶液；重复此步骤，获得3份以上相同的含铁离子的溶液C，分别往B步骤的三份以上含铁离子溶液添加不同量的A步中的含待测杂质元素离子的溶液，分别定容，形成一系列具有浓度梯度的系列标准样片溶液；（2）制备待测样片溶液：取与步骤（1）B步中的1份氧化铁等量且已干燥至恒重的铁红样品，酸溶解，定容，形成待测样片溶液；且步骤（1）和（2）中，定容后溶液体积相同；（3）系列标准样片及待测样片制作：将带有疏水环的滤纸片平铺在平板上，吸取等量的系列标准样片溶液和待测样片溶液分别滴加在不同的滤纸片疏水环的中央，试液均匀扩散至整个疏水环内区域，然后将滤纸片干燥，得系列标准样片及待测样片；（4）系列标准样片及待测样片平整化：将步骤（3）中所得到的系列标准样片及待测样片放在底托的中央，于压片机下压制后取出，使系列标准样片及待测样片表面平整；（5）用X射线荧光光谱仪进行系列标准样片检测，得到待测元素含量与荧光强度关系的校准曲线；（6）用X射线荧光光谱进行待测样片检测，根据步骤（5）中的校准曲线即可获得铁红样品中待测杂质元素含量。