[发明专利]一种光电子注入型X射线探测器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811094472.2 申请日: 2018-09-19
公开(公告)号: CN109273555B 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 王凯;徐杨兵;陈军 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H01L31/115 分类号: H01L31/115;H01L31/18
代理公司: 广州新诺专利商标事务所有限公司 44100 代理人: 林玉芳
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种光电子注入型X射线探测器件,包括衬底、栅电极、栅绝缘层、沟道半导体层、源电极、漏电极、源电极隔离层、漏电极隔离层、X射线光电导层、上电极及保护层,所述上电极与X射线光电导层的接触为欧姆接触或肖特基接触。本发明还公开了该光电子注入型X射线探测器的制备方法。本发明的光电子注入型X射线探测器件通过采用纵向堆叠的器件结构设计,采用高迁移率沟道半导体材料和高灵敏度X射线光电导材料,能够实现高灵敏度快速X射线探测,该器件同时具有传感器、放大器和开关的功能,将其应用于X射线探测和成像中能够有效提高平板X探测器的响应速度和灵敏性,实现快速高分辨率X射线成像。
搜索关键词: 一种 光电子 注入 射线 探测 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种光电子注入型X射线探测器件,其特征在于,包括:衬底;栅电极,其形成在所述衬底上;栅绝缘层,形成在栅电极上;沟道半导体层,形成在栅绝缘层上源电极和漏电极,其分别形成在所述栅绝缘层和沟道半导体层上;源电极隔离层和漏电极隔离层,其分别形成在所述源电极和漏电极层上;X射线光电导层,形成并覆盖在沟道半导体层、源电极隔离层及漏电极隔离层上;上电极,其形成在所述X射线光电导层上,且与X射线光电导层的接触为欧姆接触或肖特基接触;保护层,其形成在所述上电极层上。
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