[发明专利]用于物理不可克隆功能产生器的测试方法在审
| 申请号： | 201811094587.1 | 申请日： | 2018-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN110579700A | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 吕士濂 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11270 北京派特恩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 康艳青;姚开丽 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 中国台湾;TW |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于物理不可克隆功能(PUF)产生器的测试方法。所述方法包括向PUF胞元阵列中多个位胞元写入预配置的逻辑状态及从所述位胞元读取输出逻辑状态来检验PUF产生器的功能。确定PUF胞元阵列中输出逻辑状态不同于预配置逻辑状态的第一位胞元的第一数目。若第一数目小于第一预定数目，使用PUF产生器及屏蔽电路分别在第一组及第二组操作条件下产生各包含稳定及不稳定位胞元的第一图及第二图。使用内建自测试(BIST)引擎来确定在第一图中稳定且在第二图中不稳定的第二位胞元的第二数目。若第二数目确定为零，使用BIST引擎来确定在第一图及第二图中皆稳定的第三位胞元的第三数目。若第三数目大于第二预配置的数目，将PUF产生器确定为合格的。 | ||
| 搜索关键词： | 胞元 产生器 预配置 胞元阵列 逻辑状态 输出逻辑 物理不可克隆功能 读取 内建自测试 屏蔽电路 数目确定 组操作 个位 引擎 写入 测试 检验 | ||
【主权项】：
1.一种用于物理不可克隆功能产生器的测试方法，其特征在于，包括：/n通过向物理不可克隆功能胞元阵列中的多个位胞元写入预配置的逻辑状态及从所述多个位胞元读取输出逻辑状态来检验所述物理不可克隆功能产生器的功能；/n确定所述物理不可克隆功能胞元阵列中的第一位胞元的第一数目，其中所述第一位胞元的所述输出逻辑状态不同于所述预配置的逻辑状态；/n如果所述第一位胞元的所述第一数目小于第一预定数目，则使用所述物理不可克隆功能产生器及屏蔽电路在第一组操作条件下产生第一图，其中所述第一图包含至少一个稳定位胞元及至少一个不稳定位胞元；/n使用所述物理不可克隆功能产生器及所述屏蔽电路在第二组操作条件下产生第二图，其中所述第二图包含至少一个稳定位胞元及至少一个不稳定位胞元；/n使用内建自测试引擎来确定第二位胞元的第二数目，其中所述第二位胞元在所述第一图中是稳定的且在所述第二图中是不稳定的；/n如果所述第二位胞元的所述第二数目被确定为零，则使用所述内建自测试引擎来确定第三位胞元的第三数目，其中所述第三位胞元在所述第一图中是稳定的且在所述第二图中是稳定的；以及/n如果所述第三位胞元的所述第三数目大于第二预配置的数目，则将所述物理不可克隆功能产生器确定为合格的物理不可克隆功能产生器。/n
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