[发明专利]一种高压直流下绝缘子空间电荷密度模型优化方法有效
| 申请号： | 201811096007.2 | 申请日： | 2018-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109408885B | 公开（公告）日： | 2023-05-02 |
| 发明（设计）人： | 张周胜;邓保家;李秋烨;张子;晏武 | 申请（专利权）人： | 上海电力学院 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 蔡彭君 |
| 地址： | 200090 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种高压直流下绝缘子空间电荷密度模型优化方法，包括：步骤S1：以温度和时变电场为自变量，得到电导率数学模型，并得到电导电流密度；步骤S2：建立介电弛豫函数，并得到驰豫极化电流密度；步骤S3：将电导电流密度、驰豫极化电流密度和瞬时极化电流密度求和得到体积电流密度；步骤S4：将体积电流密度求积分得到空间电荷密度数据模型。与现有技术相比，本发明综合考虑了温度、电场、介电弛豫对空间电荷密度的影响，解决了现有模型对环境因素的考虑不周的问题，并仿真分析了各项因素对空间电荷密度的影响程度，可作为高压直流绝缘子材料选择、结构设计的参考。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 高压 流下 绝缘子 空间电荷 密度 模型 优化 方法 | ||
【主权项】：
1.一种高压直流下绝缘子空间电荷密度模型优化方法，其特征在于，包括：步骤S1：以温度和时变电场为自变量，得到电导率数学模型，并得到电导电流密度；步骤S2：建立介电弛豫函数，并得到驰豫极化电流密度；步骤S3：将电导电流密度、驰豫极化电流密度和瞬时极化电流密度求和得到体积电流密度；步骤S4：将体积电流密度求积分得到空间电荷密度数据模型。
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