[发明专利]X射线检查装置有效
| 申请号： | 201811102282.0 | 申请日： | 2018-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN109540931B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 长谷川功;菅野淳;畠山卓也 | 申请（专利权）人： | 世高株式会社 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供一种X射线检查装置，能够构成多个作业者能够高效地目视检查的生产线。本发明的X射线检查装置拍摄被检查物的X射线透射图像，将被检查物输送到具有多个处理位置的下游处理部。X射线检查装置具备：X射线照射部，向检查对象区域的被检查物照射X射线；X射线检测部，对透过了被检查物的X射线进行检测；输送机构，将被检查物经由检查对象区域输送到下游处理部；显示部，具有与多个处理位置中的各个处理位置对应的多个显示区域；以及控制部，进行如下控制：使用X射线检测部对X射线的检测结果来生成被检查物的X射线透射图像，确定在哪一个处理位置对被检查物进行处理，在与确定出的处理位置对应的显示区域显示被检查物的X射线透射图像。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检查装置，其拍摄被检查物的X射线透射图像，将该被检查物输送到具有多个处理位置的下游处理部，该X射线检查装置具备：X射线照射部，其向检查对象区域的被检查物照射X射线；X射线检测部，其对透过了所述被检查物的X射线进行检测；输送机构，其将所述被检查物经由所述检查对象区域输送到所述下游处理部；显示部，其具有与所述多个处理位置分别对应的多个显示区域；以及控制部，其进行如下控制：使用所述X射线检测部对X射线的检测结果来生成所述被检查物的X射线透射图像，确定在哪一个处理位置对所述被检查物进行处理，在与该确定出的处理位置对应的显示区域显示所述被检查物的X射线透射图像。
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