[发明专利]一种用于集成系统的测试方法及装置有效
| 申请号： | 201811107881.1 | 申请日： | 2018-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN109376076B | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 蒋广慧;范红霞;吴建青;刘强;国威;苑忠霞 | 申请（专利权）人： | 华迪计算机集团有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京工信联合知识产权代理有限公司 11266 | 代理人： | 胡秋立 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成系统的测试方法，包括：获取基于国产环境的集成系统的测试对象；将所述测试对象匹配测试标准包含的测试内容，获得所述测试对象的测试项；针对不同的测试项设计不同的测试方法，以及设计不同的测试用例；将发生测试活动的触发事件，匹配对应的测试方法，使用所述测试方法执行与所述触发事件相关的测试用例，输出所述触发事件的测试结果，解决了基于国产环境的集成系统是一整套集成产品组合，集成环境内任何一个组件的变动都有可能影响整个集成环境的使用，存在由于测试覆盖度低，影响测试质量的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成 系统 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成系统的测试方法，其特征在于，包括：获取基于国产环境的集成系统的测试对象；将所述测试对象匹配测试标准包含的测试内容，获得所述测试对象的测试项；针对不同的测试项设计不同的测试方法，以及设计不同的测试用例；将发生测试活动的触发事件，匹配对应的测试方法，使用所述测试方法执行与所述触发事件相关的测试用例，输出所述触发事件的测试结果。
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