[发明专利]一种三层氮化硅薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201811112871.7 申请日: 2018-09-25
公开(公告)号: CN109360866B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 张晓攀;赵福祥;崔钟亨 申请(专利权)人: 韩华新能源(启东)有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L21/67;H01L31/0216
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 孙仿卫
地址: 226200 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种三层氮化硅薄膜的制备方法,包括以下步骤:(1)准备材料:准备半导体衬底;(2)制备第一层薄膜:将所述的半导体衬底放入沉积设备中,设置第一沉积条件,所述第一沉积条件中的沉积温度均匀降低,沉积第一层氮化硅薄膜;(3)制备第二层薄膜:设置第二沉积条件,所述第二沉积条件中的沉积温度均匀降低,形成第二层氮化硅薄膜;(4)制备第三层薄膜:设置第三沉积条件,所述第三沉积条件中的沉积温度均匀降低,形成第三层氮化硅薄膜。本发明的一种三层氮化硅薄膜的制备方法,可有效改善氮化硅薄膜对晶硅太阳能电池的钝化效果、减反射效果,降低工艺时间,沉积温度逐渐降低节约能耗,降低用电成本。
搜索关键词: 一种 三层 氮化 薄膜 制备 方法
【主权项】:
1.一种三层氮化硅薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)准备材料:准备半导体衬底;(2)制备第一层薄膜:将所述的半导体衬底放入沉积设备中,在所述沉积设备的沉积腔中通入反应气体SiH4和NH3并通过设置第一沉积条件,所述第一沉积条件中的沉积温度均匀降低,在所述半导体衬底上沉积第一层氮化硅薄膜;(3)制备第二层薄膜:在步骤(2)结束后继续在所述沉积腔中通入反应气体SiH4和NH3,设置第二沉积条件,所述第二沉积条件中的沉积温度均匀降低,在所述第一层氮化硅薄膜的外表面形成第二层氮化硅薄膜;(4)制备第三层薄膜:在步骤(3)结束后继续在所述沉积腔中通入反应气体SiH4和NH3,设置第三沉积条件,所述第三沉积条件中的沉积温度均匀降低,在所述第二层氮化硅薄膜的外表面形成第三层氮化硅薄膜,最终形成三层氮化硅薄膜结构。
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