[发明专利]一种校准装置有效
| 申请号： | 201811125472.4 | 申请日： | 2018-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN109342833B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 黄承祖;刘星汛;彭博;董佳;刘东霞;黄建领;郑从伟;雷垒 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 付生辉 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种校准装置，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置，接收装置包括探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，第一调节组件与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述第一调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。本发明通过设置探头组件和第一天线组件，既可以用来对微波天线的天线系数、方向图、轴比进行校准，还可以对场强探头的频率响应、三轴等参数进行校准。通过设置第一调节组件，从而使得探头组件工作时，可以将天线组件移开，从而避免第一天线组件对探头组件造成干扰，能够一体化校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校准 装置 | ||
【主权项】：
1.一种校准装置，其设于微波暗室内，其特征在于，所述装置包括：可发射微波的发射装置，以及与所述发射装置配合的接收装置；所述接收装置包括：探头组件，用于检测所述接收装置附近的场强；第一天线组件，用于接收所述微波；以及第一调节组件，与所述天线组件结合，当所述探头组件工作时，所述调节组件使所述天线组件向远离所述探头组件的方向移动至预设位置。
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