[发明专利]一种氟离子的检测方法及去除方法有效

专利信息
申请号: 201811125523.3 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109297943B 公开(公告)日: 2021-12-24
发明(设计)人: 许跃;李晓磊;庄琳;李倩琍 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;C09K11/65;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 陈卫
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种氟离子的检测方法及去除方法。本发明以固定有碳量子点(SiCDs)的介孔二氧化硅层为自荧光标记物,同时以荧光团纯碳点(NCDs)和F离子受体镍离子(Ni2+)螯合物为猝灭荧光探针,形成双荧光团复合超顺磁性荧光探针,利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+,从而改变荧光强度来实现氟离子的快速、高效、特异、可视化检测,其检测限为65 nM,线性范围为1~25μM;本发明还同时建立了一种简便、快速、特异、高效的氟离子去除方法,在自来水中对氟离子的去除有效率高达96%,且该荧光探针可以重复回收利用,可望在生物与医学监控及检测领域得到广泛的应用。
搜索关键词: 一种 离子 检测 方法 去除
【主权项】:
1.一种氟离子的检测方法,其特征在于,所述检测方法是利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+,从而改变荧光强度来实现氟离子的定量检测;其中,所述荧光探针的内核为Fe3O4纳米颗粒,外壳为修饰在所述Fe3O4纳米颗粒外表面上的含有机硅烷官能化碳点的介孔二氧化硅。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中山大学,未经中山大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811125523.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top