[发明专利]一种氟离子的检测方法及去除方法有效
申请号: | 201811125523.3 | 申请日: | 2018-09-26 |
公开(公告)号: | CN109297943B | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 许跃;李晓磊;庄琳;李倩琍 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;C09K11/65;C09K11/02;B82Y20/00;B82Y30/00;B82Y40/00 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈卫 |
地址: | 510275 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: |
本发明公开了一种氟离子的检测方法及去除方法。本发明以固定有碳量子点(SiCDs)的介孔二氧化硅层为自荧光标记物,同时以荧光团纯碳点(NCDs)和F离子受体镍离子(Ni |
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搜索关键词: | 一种 离子 检测 方法 去除 | ||
【主权项】:
1.一种氟离子的检测方法,其特征在于,所述检测方法是利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+,从而改变荧光强度来实现氟离子的定量检测;其中,所述荧光探针的内核为Fe3O4纳米颗粒,外壳为修饰在所述Fe3O4纳米颗粒外表面上的含有机硅烷官能化碳点的介孔二氧化硅。
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