[发明专利]一种氟离子的检测方法及去除方法

摘要

本发明公开了一种氟离子的检测方法及去除方法。本发明以固定有碳量子点（SiCDs）的介孔二氧化硅层为自荧光标记物，同时以荧光团纯碳点（NCDs）和F离子受体镍离子（Ni2+）螯合物为猝灭荧光探针，形成双荧光团复合超顺磁性荧光探针，利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+，从而改变荧光强度来实现氟离子的快速、高效、特异、可视化检测，其检测限为65 nM，线性范围为1～25μM；本发明还同时建立了一种简便、快速、特异、高效的氟离子去除方法，在自来水中对氟离子的去除有效率高达96%，且该荧光探针可以重复回收利用，可望在生物与医学监控及检测领域得到广泛的应用。

主权项

1.一种氟离子的检测方法，其特征在于，所述检测方法是利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni2+，从而改变荧光强度来实现氟离子的定量检测；其中，所述荧光探针的内核为Fe3O4纳米颗粒，外壳为修饰在所述Fe3O4纳米颗粒外表面上的含有机硅烷官能化碳点的介孔二氧化硅。