[发明专利]一种表层穿透雷达双曲线目标检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201811126006.8 申请日: 2018-09-26
公开(公告)号: CN109085548B 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 刘耿烨;席景春;雷文太;侯斐斐;杨治霖;谷庆元;李跃星 申请(专利权)人: 湖南时变通讯科技有限公司
主分类号: G01S7/292 分类号: G01S7/292;G01S7/41
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 411100 湖南省湘潭*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种表层穿透雷达双曲线目标检测方法及装置,通过预置点分割阈值,将表层穿透雷达接收信号的B‑scan图像转换的二值图像中孤立的像素点去除,清除二值图像中的零散的像素点,再通过寻找二值图像中的上开口和下开口区域,提取二值图像中的目标区域,最后将二值图像中非聚类的像素点去除,并将两个双曲线之间的交叉区域的像素点去除,使得二值图像中虚假目标区域被去除,更精确和完整地提取表层穿透雷达目标检测中存在的双曲线目标,解决了现有的表层穿透雷达双曲线特征的提取方法存在的双曲线的提取精度不高,背景目标的去除存在的不足的技术问题。
搜索关键词: 一种 表层 穿透 雷达 双曲线 目标 检测 方法 装置
【主权项】:
1.一种表层穿透雷达双曲线目标检测方法,其特征在于,包括:S1、获取去除直达波后的表层穿透雷达接收信号的B‑scan图像;S2、对B‑scan图像进行预处理,将B‑scan图像转换为二值图像;S3、根据预置点分割阈值,将二值图像中非点分割的像素点去除,得到初次处理后的二值图像;S4、逐行遍历二值图像,当二值图像中上开口或下开口的一条边所占列数小于预设阈值时,将所述边包含的像素点去除,得到二次处理后的二值图像;S5、再次逐行遍历二值图像,将二值图像中非聚类的像素点去除,并将二值图像中两个双曲线之间的交叉区域的像素点去除,得到三次处理后的二值图像;S6、逐列遍历二值图像,确定二值图像中像素点的中位数,并根据像素点的中位数进行双曲线的拟合,根据拟合后的双曲线在B‑scan图像中确定目标的位置。
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