[发明专利]一种分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试方法有效

专利信息
申请号: 201811127975.5 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN109342025B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 赵永强;李宁;潘泉 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 西安佳士成专利代理事务所合伙企业(普通合伙) 61243 代理人: 李东京;李丹
地址: 710068 陕西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试方法,解决了现有技术中难以对集成后分焦平面式红外偏振成像相机的偏振透过率进行准确测试的问题。本发明采用分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试系统进行测试,所述分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试系统包含微纳光栅偏振阵列;所述微纳光栅偏振阵列包含多个紧密相连的2×2超像素单元,所述2×2超像素单元包含一个非偏振全通单元;所述测试方法包含如下步骤:(1)调节面源黑体、红外线偏振片以及分焦平面红外偏振成像相机的位置;(2)旋转红外线偏振片,使其透射方向与待测偏振单元透射方向一致;采用高低温作差法计算待测偏振单元偏振透过率。
搜索关键词: 一种 平面 红外 偏振 成像 相机 透过 测试 方法
【主权项】:
1.一种分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试方法,采用分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试系统进行测试,所述分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试系统包含面源黑体、红外线偏振片、分焦平面红外偏振成像相机、微纳光栅偏振阵列和红外焦平面;面源黑体作为光源可产生不同温度的均匀辐射,经红外线偏振片起偏生成线偏振光,旋转红外线偏振片即可得到不同方向的红外线偏振光,光线进入分焦平面红外偏振成像相机,经微纳光栅偏振阵列后到达红外焦平面;其特征在于:所述微纳光栅偏振阵列包含多个紧密相连的2×2超像素单元,所述2×2超像素单元包含一个非偏振全通单元、一个45°偏振单元、一个90°偏振单元和一个0°偏振单元;所述测试方法包含如下步骤:(1)调节面源黑体、红外线偏振片以及分焦平面红外偏振成像相机的位置,使三者光轴一致,并调节三者之间的距离使面源黑体的面源辐射经红外线偏振片后充满相机整个视场;(2)旋转红外线偏振片,使其透射方向与待测偏振单元透射方向一致;(3)调节面源黑体的温度为低温状态,通过分焦平面红外偏振成像相机连续采集N帧图像数据,将所得N幅图像数据取平均得到低温数据,记作IL,在第(i,j)个超像素处,待测偏振单元像素值记为ILθ(i,j),全通单元像素值记为ILE(i,j);N为整数且大于1;(4)调节面源黑体7的温度为高温状态,通过分焦平面红外偏振成像相机连续采集M帧图像数据,将所得M幅图像数据取平均得到低温数据,记作IH,在第(i,j)个超像素处,待测偏振单元像素值记为IHθ(i,j),全通单元像素值记为IHE(i,j);M为整数且大于1;(5)采用高低温作差法计算待测偏振单元偏振透过率,即
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北工业大学,未经西北工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811127975.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top