[发明专利]硅系离型膜交联率测试方法在审
| 申请号： | 201811128041.3 | 申请日： | 2018-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN109164114A | 公开（公告）日： | 2019-01-08 |
| 发明（设计）人： | 唐月方 | 申请（专利权）人： | 苏州市星辰科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 | 代理人： | 王真 |
| 地址： | 215103 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了硅系离型膜交联率测试方法，包括如下步骤：S1前期准备：调试X光涂布量测试仪，并设置测试参数；S2第一次测试：取一块离型膜，放置在测试平台上，用X光涂布量测试仪器测试其涂布量，并得到涂布量为X1；S3浸泡：将所述离型膜浸泡在装有制备该离型膜时所采用的溶剂的容器中，浸泡12~72小时，确保所述离型膜中未交联的硅油进入到所述溶剂中，浸泡完成后，自然风干；S4第二次测试：将经过步骤S3处理后的所述离型膜再采用X光涂布量测试仪测试离型膜的涂布量，并得到涂布量为X2；S5获得交联率：将步骤S2和步骤S4分别测得的涂布量X1和涂布量X2进行计算得到比值的百分比即为其交联率。 | ||
| 搜索关键词： | 涂布量 离型膜 测试 交联 浸泡 测试仪 溶剂 硅系 设置测试参数 测试平台 测试仪器 自然风干 未交联 硅油 制备 调试 | ||
【主权项】：
1.一种硅系离型膜交联率测试方法，其特征在于：具体包括如下步骤：S1前期准备：调试X光涂布量测试仪，并设置测试参数；S2第一次测试：取一块离型膜，放置在测试平台上，用X光涂布量测试仪器测试其涂布量，并得到涂布量为X1；S3浸泡：将所述离型膜浸泡在装有制备该离型膜时所采用的溶剂的容器中，浸泡12~72小时，确保所述离型膜中未交联的硅油进入到所述溶剂中，浸泡完成后，自然风干；S4第二次测试：将经过步骤S3处理后的所述离型膜再采用X光涂布量测试仪测试离型膜的涂布量，并得到涂布量为X2；S5获得交联率：将步骤S2和步骤S4分别测得的涂布量X1和涂布量X2进行计算得到比值的百分比即为其交联率。
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