[发明专利]基于铝氧化物的RRAM及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201811128573.7 申请日: 2018-09-27
公开(公告)号: CN109461812B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 沈棕杰;戚燕菲;赵春;赵策洲;杨莉;张艺;罗天;黄彦博 申请(专利权)人: 西交利物浦大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种电子器件技术领域基于铝氧化物的RRAM及其制备方法,包括由下至上层叠设置的基底、阻变氧化层和上电极层;所述基底包括绝缘层和下电极层;所述阻变氧化层为Al2O3薄膜层;所述上电极层包括若干阵列在阻变氧化层上的上电极,所述上电极在远离阻变氧化层的表面设有金属保护层。本发明采用溶液法工艺制造阻变氧化层,实现低成本RRAM的制备,设备和原料投资较少,可实现大规模工业应用。
搜索关键词: 基于 氧化物 rram 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于铝氧化物的RRAM,其特征在于,包括由下至上层叠设置的基底、阻变氧化层和上电极层;所述基底包括绝缘层和下电极层;所述阻变氧化层为Al2O3薄膜层;所述上电极层包括若干阵列在阻变氧化层上的上电极,所述上电极在远离阻变氧化层的表面设有金属保护层。
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