[发明专利]绕射波成像方法、装置和电子设备

摘要

本发明提供了一种绕射波成像方法、装置和电子设备，其中，该方法包括：获取角度域下的共成像道集；共成像道集包括多个成像道集；每个成像道集对应一个成像点；每个成像道集包括多个采样点；每个采样点包括时间参数；对每个成像道集进行下述处理：按照时间参数对采样点进行划分得到多个时间切片，计算每个时间切片的每一采样点的衰减因子与衰减系数，对每个时间切片的若干采样点及若干采样点对应的衰减系数进行叠加计算，得到每个时间切片的成像结果，将其进行集合，得到每个成像点的成像结果，将每个成像点的成像结果进行集合，得到共成像道集的成像结果。本发明有效地压制了反射波和噪声，增强了绕射波，提高了绕射波成像结果的分辨率。

主权项

1.一种绕射波成像方法，其特征在于，所述方法包括：获取角度域下的共成像道集；所述共成像道集包括多个成像道集；每个所述成像道集对应一个成像点，每个所述成像道集包括多个采样点；所述采样点包括时间参数；对每个所述成像道集执行以下处理步骤：根据所述时间参数对所述采样点进行时间划分，得到多个时间切片；时间参数相同的若干采样点的集合为一个所述时间切片；对每个所述时间切片的每一采样点进行第一计算，得到每一采样点对应的衰减因子；对所述衰减因子进行第二计算，得到衰减系数；对每个所述时间切片的若干采样点和若干采样点对应的衰减系数进行叠加计算，得到每个所述时间切片的成像结果；将所述成像道集对应相关的多个时间切片的成像结果进行集合，得到所述成像道集对应的成像点的成像结果；通过对所述共成像道集的每个成像道集进行以上处理步骤，得到所述多个成像道集对应的多个成像点的成像结果；将所述共成像道集的多个成像点的成像结果进行集合，得到所述共成像道集的成像结果；所述采样点还包括倾角参数、方位角参数；所述成像道集为cig_num(dip,azi,t)；其中，dip为所述倾角参数，azi为所述方位角参数，t为所述时间参数；所述成像道集包括多个采样点x_(i,j,k)；其中，k为所述时间参数t的一个取值，(i,j)分布表示所述时间参数k对应的时间切片的所述采样点x的分布，i的取值为(1,n)，j的取值为(1,m)，n、m分别为大于0的自然数；所述方法还包括：利用下述公式计算所述衰减因子：其中，x_(i,j,k)表示所述采样点；u表示所述时间参数k对应的时间切片的所有采样点的均值；σ表示所述时间参数k对应的时间切片的所有采样点的标准差；dm(x_(i,j,k))表示所述采样点x_(i,j,k)对应的衰减因子；所述对所述衰减因子进行第二计算，得到衰减系数的步骤，包括：利用下述公式计算所述衰减系数：其中，dm(x_(i,j,k))表示所述采样点x_(i,j,k)对应的衰减因子；a(x_(i,j,k))表示所述采样点x_(i,j,k)对应的衰减系数；所述对每个所述时间切片的若干采样点和若干采样点对应的衰减系数进行叠加计算，得到每个所述时间切片的成像结果的步骤，包括：利用下述公式计算每个所述时间切片的成像结果：其中，a(x_(i,j,k))表示所述采样点x_(i,j,k)对应的衰减系数；V(k)表示所述时间参数为k的时间切片的成像结果。