[发明专利]预测射频电路故障表征参数的优选方法有效
申请号: | 201811134568.7 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN109257120B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 陈文豪 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | H04B17/10 | 分类号: | H04B17/10;H04B17/391 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提出了预测射频电路故障表征参数的优选方法。利用本发明优选流程可确保所选取的表征参数具有灵敏性、有效性和准确性。本发明通过下述技术方案予以实现:首先对射频电路系统进行分层划分,在分层基础上开展故障模式与影响分析FMEA、故障树分析FTA和历史数据统计分析,确定所有潜在表征参数集,构建可测表征参数集和不可测表征参数集,通过检测方法分析构建间接可测表征参数集,对潜在表征参数集进行重复性、可测性、相关性和重要度等分析形成基本预测表征参数集,最后从故障预测的完整度和有效性分析最终确定故障预测关键灵敏表征参数,确立对射频电路故障灵敏参数的选取步骤并固化对射频电路系统故障预测用表征参数的优选流程。 | ||
搜索关键词: | 预测 射频 电路 故障 表征 参数 优选 方法 | ||
【主权项】:
1.一种预测射频电路故障表征参数的优选方法,其特征在于包括如下步骤:首先按射频信号流、功能类别和功能级别对射频电路进行系统层次划分,分析所有各层功能的故障表征参数或检测参数信息,同时结合历史数据分析得到表征参数,形成表征特征参数的合并集,对合并集中重复的参数进行处理,剔除重复参数后,根据这些参数信息构成潜在预测表征参数集;利用潜在失效模式和影响分析FMEA、故障树分析FTA,由底到高的层次对各种故障模式和影响参数的传递关系进行可测性分析,将直接可测参数构建为可测表征参数集,不可直接测试参数构建为不可测表征参数集,对不可测表征参数集再分析,检测其中的间接可测参数,构建间接可测表征参数集;利用历史数据分析统计潜在故障预测表征参数集中的参数,对易失效器件的参数进行基于信息贡献度的敏感性分析和健康表征参数重要度分析,对功能电路具体元器件的历史失效数据进行排序,确定易失效器件;采用相关性分析筛选出的重要参数和可测表征参数集中的参数,分类出关联参数集和独立参数集两大类参数,剔除关联参数集中的冗余关联参数后,再与独立参数集合并,形成基本预测表征参数集;最后,基于确定的基本故障预测表征参数集,判断预测表征参数完整度是否达到规定要求,是则构建形成关键灵敏表征参数集,否则再从间接可测参数集中进行选择追加,从相关性分析流程再开展一轮分析,直到满足完整性要求,形成射频电路故障预测优选的关键灵敏表征参数,确立对射频电路故障灵敏参数的选取步骤,并固化对射频电路系统故障预测用表征参数的优选流程。
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