[发明专利]一种微火工品等离子体折射率瞬态演变测试装置

摘要

本发明属于微火工品参数测量技术领域，更具体的，涉及一种微火工品等离子体折射率瞬态演变测试装置。本发明通过保证测量光路模块中的四路光束和参考光路模块中的四路光束组成四对干涉光束，每对干涉光束中的两束光路等效光程相同，每对干涉光束之间的等效光程不相等，得到含有微火工品等离子体折射率参数信息的图像，在软件中编写程序解得微火工品等离子体折射率，得到微火工品等离子体折射率的瞬态演变规律。

主权项

1.一种微火工品等离子体折射率瞬态演变测试装置，包括光纤耦合激光器（1），光纤隔离器（2），可调分光比Y型光纤分束器（3），测量光路模块（4），参考光路模块（5），50/50Y型光纤耦合器（6），信号采集处理模块（7），示波器（8）和PC端数据处理模块（9）；所述光纤耦合激光器（1）产生的单色光经过光纤隔离器（2），通过可调分光比Y型光纤分束器（3），得到两束功率不相等的激光束；其中高功率的激光作为测量光束，进入测量光路模块（4），所述测量光路模块（4）由1×4光纤分束器（10）、光纤准直器（12）和掺铒光纤放大器（13）串联组成，进入的测量光束经1×4光纤分束器（10）将一束光分成四路，分别进入光纤准直器（12），光纤准直系统（12）按照“米”字型进行排列分布，其中间放置微火工品，四束光穿过微火工品（作为等离子体产生源）后，经四个掺铒光纤放大器（13）后送至四个50/50Y型光纤耦合器（10）的输入端进行耦合；其中低功率的激光作为参考光束，通过光纤衰减器（14）后进入1×4光纤分束器（15），光纤衰减器（14）和1×4光纤分束器（15）构成参考光路模块（5），1×4光纤分束器（15）将一束光分成四路送至四个50/50Y型光纤耦合器（6）的输入端进行耦合；所述测量光路模块（4）中的四路光束和参考光路模块（5）中的四路光束组成四对干涉光束，每对干涉光束中的两束光路等效光程相同，每对干涉光束之间的等效光程不相等；所述信号采集处理模块（7）的输入端连接至所述50/50Y型光纤耦合器（6）的输出端，信号采集处理模块（7）经示波器（9）连接数据处理模块（9）。