[发明专利]一种触摸屏成像的检测方法

摘要

本发明公开一种触摸屏成像的检测方法；解决的问题针对现有电容式触摸屏的功能片主要是依靠对ITO镀层进行图案设计从而实现触控功能，该ITO镀层在加工制作或者客户使用不当过程中容易造成损坏，在以往的失效分析过程中，在不破坏产品的情况下，分析止步于位置判定，不能对图形原像进行清晰呈现，降低分析效率和数据统计水平的技术问题。采取方案检测方法包括步骤1、将触摸屏置于贴合台面上；2、在盖板上全覆盖抗环境光干扰材料层；3、取出触摸屏；4、将触摸屏置于显微镜台面上；5、环境光进入触摸屏；6、成像。优点加强对触摸电容屏ITO层的原像对比，减少对显微镜仪器技术发展的依赖，降低检测成本，满足电容屏行业技术发展需求。

主权项

1.一种触摸屏成像的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、将触摸屏置于贴合台面(8)上且触摸屏的盖板(5)面朝上，在触摸屏上对称的两个转角处采用转角支架(7)固定；触摸屏包括柔性线路板(1)、ITO膜基材(2)、ITO涂层(3)、固态光学胶(4)和盖板(5)，ITO膜基材(2)全覆盖在柔性线路板(1)上，ITO涂层(3)部分覆盖在ITO膜基材(2)上，盖板(5)通过固态光学胶(4)设置在ITO涂层(3)上；步骤2、在步骤1中的盖板(5)上全覆盖抗环境光干扰材料层(6)；步骤3、取出步骤2中的带动抗环境光干扰材料层(6)的触摸屏；步骤4、将步骤3中的触摸屏置于显微镜台面上且触摸屏的ITO膜基材(2)面朝上；步骤5、环境光进入触摸屏，定义触摸屏内在ITO膜基材(2)与固态光学胶(4)之间未覆盖ITO涂层(3)处均为ITO膜基材检测点(22)，定义触摸屏内的在ITO膜基材(2)与固态光学胶(4)之间覆盖有ITO涂层(3)的均为ITO涂层检测点(33)；观察显微镜内的ITO膜基材检测点(22)的ITO膜基材检测点成像(222)和ITO涂层检测点(33)的ITO涂层检测点成像(333)；步骤6、对比步骤5中的ITO膜基材检测点成像(222)和ITO涂层检测点成像(333)有较高对比度并可清晰成像，完成对触摸屏的检测。