[发明专利]自动化扩频捕获性能测试电路有效
申请号: | 201811138575.4 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN109361480B | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 吴键 | 申请(专利权)人: | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
主分类号: | H04B17/29 | 分类号: | H04B17/29;H04B1/7075 |
代理公司: | 成飞(集团)公司专利中心 51121 | 代理人: | 郭纯武 |
地址: | 610036 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明提出一种自动化扩频捕获性能测试电路,旨在提供一种测试效率高,能够方便对接收机进行调试和测试的测试电路。本发明通过下述技术方案予以实现:测试之前,上位机将全1位置和频率测试期望精度预置至全1测试模块;全1测试模块以模拟源全1相应信号作为参考信号,每次接收到捕获结果则立即刷新测试结果,根据扩频捕获全1和模拟源全1相应逻辑自动统计全1位置超标、超时和总计数,将全1超标计数、全1超时计数和全1总计数捕获结果送出,上报至上位机显示;频率测试模块根据捕获频率和模拟源频率相应逻辑实时自动统计频率超标和总计数,将频率性能结果上报给上位机显示。 | ||
搜索关键词: | 自动化 捕获 性能 测试 电路 | ||
【主权项】:
1.一种自动化扩频捕获性能测试电路,包括向上位机传输全1超标计数、全1超时计数和全1总计数的全1测试模块,向上位机传输频率超标计数和频率总计数的频率测试模块,其特征在于:在测试开始之前,全1测试模块上电初始化,上位机将全1位置和频率测试期望精度预置至全1测试模块;捕获开始后,全1测试模块以模拟源全1相应信号作为参考信号,每次接收到捕获全1结果则立即刷新测试结果,根据扩频捕获全1和模拟源全1相应逻辑自动统计全1位置超标、超时和总计数,将全1超标计数、全1超时计数和全1总计数捕获结果送出,上报至上位机显示;频率测试模块根据捕获频率和模拟源频率相应逻辑实时自动统计频率超标和总计数,将频率性能结果上报给上位机显示。
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