[发明专利]光学材料条纹的定量测试方法有效
| 申请号： | 201811138838.1 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN109342437B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 麦绿波 | 申请（专利权）人： | 中国兵器工业标准化研究所 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 王雪芬 |
| 地址： | 100089 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及光学材料条纹的定量测试方法，涉及光学材料条纹测试技术领域。本发明首先是创建一个条纹量化表达的概念和条纹量化算法公式，然后应用光电探测器接收的光学投影测试装置，通过建立光电探测器的接收信号的灰度标尺和校准投影装置的标准校样，对光学投影测试装置进行标定或校准，用标定或校准的光学投影测试装置对被测样品进行测试，并由光学投影测试装置对样品的测试图像进行统计，按条纹量化算法公式进行计算，获得被测试样品的条纹缺陷的定量表达值。本发明使光学材料条纹测试的结果由人工评定转变为按照条纹值的算法由光电投影测试装置自动算出定量结果，大大提高了测试的精准性和测试的客观性，同时还大大提高测试工作的效率，使获得测试图像的同时就获得了定量测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 光学材料 条纹 定量 测试 方法 | ||
【主权项】：
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