[发明专利]一种航天器在轨表面带电效应风险量化评估方法有效

专利信息
申请号: 201811140271.1 申请日: 2018-09-28
公开(公告)号: CN109325693B 公开(公告)日: 2021-11-02
发明(设计)人: 李得天;杨生胜;秦晓刚;蒋锴;全林;薛玉雄;王小军;王斌;史亮;王俊 申请(专利权)人: 兰州空间技术物理研究所
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李微微;仇蕾安
地址: 730000 甘*** 国省代码: 甘肃;62
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摘要: 发明公开了一种航天器在轨表面带电效应风险评估方法,是根据航天器在轨过程中空间环境电子温度和电子通量实时监测制定的表面带电效应风险评估方法,可对航天器造成的表面带电效应风险进行实时干预(进行主动电位控制)和制定相应的应急预案(关闭敏感单机),避免航天器表面带电效应引起严重的故障,对提高航天器在轨安全可靠运行具有重大意义;本发明可以针对不同类型、不同轨道航天器、或航天器不同敏感部位(如太阳电池阵等)对表面带电要求,制定差异化的在轨表面带电效应风险评估方法,因此具有更广泛的应用范围。
搜索关键词: 一种 航天器 表面 带电 效应 风险 量化 评估 方法
【主权项】:
1.一种在轨航天器表面带电效应风险评估方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、将航天器表面可能发生放电时的阈值电位到电位无限大之间划分成多个电位段;并为各个电位段确定放电风险等级;步骤2、当航天器进入轨道阴影区时,获取空间等离子体不同能段下的电子通量总和,然后根据公式φ=‑1.359×10‑12(∑Ji)2.03计算航天器表面电位φ;Ji为不同能段下的电子通量;当航天器进入光照区时,获取空间等离子体电子温度T,并根据公式φ=‑2.4×10‑7T2.51计算航天器表面电位φ;(4)基于步骤1的结果,确定步骤3获得的航天器表面电位φ在哪个电位段,由此以确定航天器放电风险等级,进而进行放电风险等级评估。
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