[发明专利]电容器件及其形成方法在审
申请号: | 201811141437.1 | 申请日: | 2018-09-28 |
公开(公告)号: | CN110970557A | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 胡连峰;胡友存;杨明;卑多慧;倪百兵 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L49/02 | 分类号: | H01L49/02 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 徐文欣;吴敏 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种电容器件及其形成方法,其中方法包括:提供基底;在所述基底上形成第一层电极,所述第一层电极具有第一粗糙度;在所述第一层电极表面形成导电层,所述导电层具有第二粗糙度,所述第二粗糙度小于第一粗糙度;在所述导电层表面形成电介质层;在所述电介质层表面形成第二层电极。其中结构包括:基底,位于所述基底上的第一层电极,所述第一层电极具有第一粗糙度;位于所述第一层电极表面的导电层,所述导电层具有第二粗糙度,所述第二粗糙度小于第一粗糙度;位于所述导电层表面的电介质层;位于所述电介质层表面的第二层电极。所述方法形成的电容器件的可靠性较好。 | ||
搜索关键词: | 电容 器件 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811141437.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于双相介质理论的油气识别方法及存储介质
- 下一篇:机器人及安装方法