[发明专利]一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法有效
| 申请号： | 201811143724.6 | 申请日： | 2018-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN109187597B | 公开（公告）日： | 2021-05-18 |
| 发明（设计）人： | 王从科;董方旭;赵付宝;凡丽梅;张霞;郑素萍 | 申请（专利权）人： | 山东非金属材料研究所 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京市隆安律师事务所 11323 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 250031 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法，包括以下步骤：S1：通过X射线数字成像检测得到待检测工件的检测图像；S2：将待检测工件的检测图像与预定的检测图谱进行比对，得到待检测工件的近似缺陷尺寸；S3：计算检测图像的不清晰度，并计算得到待检测工件的近似缺陷尺寸与检测图像的不清晰度的比值；S4：根据预定的缺陷尺寸与不清晰度比值同波高比例的关系，确定待检测工件的缺陷尺寸测量的波高比例；S5：根据所确定的波高比例进行待检测工件的缺陷尺寸的测量。本发明的缺陷尺寸测量方法具有操作方便、适用性广、可靠性高、准确性高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 数字 成像 缺陷 尺寸 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线数字成像缺陷尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：通过X射线数字成像检测得到待检测工件的检测图像；S2：将待检测工件的检测图像与预定的检测图谱进行比对，得到待检测工件的近似缺陷尺寸；S3：计算检测图像的不清晰度，并计算得到待检测工件的近似缺陷尺寸与检测图像的不清晰度的比值；S4：根据预定的缺陷尺寸与不清晰度比值同波高比例的关系，确定待检测工件的缺陷尺寸测量的波高比例；S5：根据所确定的波高比例进行待检测工件的缺陷尺寸的测量。
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