[发明专利]照度校正装置、照度校正方法以及照度检测方法有效
申请号: | 201811147499.3 | 申请日: | 2018-09-29 |
公开(公告)号: | CN110907032B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 林信良 | 申请(专利权)人: | 广达电脑股份有限公司 |
主分类号: | G01J1/02 | 分类号: | G01J1/02;G01J1/04 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种照度校正装置,包括:参考光源以及照度检测装置。参考光源产生具有特定波长以及光源照度的光线,其中参考光源根据控制信号,调整光源照度为第一照度。照度检测装置包括:遮光板、照度检测器以及控制器。遮光板用以将第一照度降低至第一遮光照度。照度检测器检测第一遮光照度而发出检测信号。控制器发出控制信号,并根据检测信号而计算第一照度以及第一遮光照度的第一比值。 | ||
搜索关键词: | 照度 校正 装置 方法 以及 检测 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广达电脑股份有限公司,未经广达电脑股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811147499.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:存储器装置及其制造方法
- 下一篇:晶片封装构造及其晶片