[发明专利]一种用于长波红外光学系统的低温标定系统有效
| 申请号： | 201811147910.7 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN110967114B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 张涛;王成龙;杨帅;王东鹤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01J5/90 | 分类号： | G01J5/90 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 曹卫良 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种用于长波红外光学系统的低温标定系统。该长波红外光学系统的低温标定系统包括具有温度传感器的低温腔型黑体，保温隔热层，具有密封保护玻璃、第一反射镜和第二反射镜的平行光管，充氮密封管，待标定的光学系统和具有温度控制器的上位机。本发明实施例所提供的用于长波红外光学系统的低温标的系统能够针对长波红外系统的响应特性进行全温度范围(即‑50℃～50℃)标定的系统且具有成本低、体积小、功耗小、升降温速度快等特点，可有效地提高长波红外系统的标定效率及标定精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 长波 红外 光学系统 低温 标定 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811147910.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
