[发明专利]一种数字温补晶振自动测试系统及方法在审
| 申请号： | 201811148632.7 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109375005A | 公开（公告）日： | 2019-02-22 |
| 发明（设计）人： | 孙怀启 | 申请（专利权）人： | 昆山睿力得软件技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 | 代理人： | 母秋松;董建林 |
| 地址： | 215316 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数字温补晶振自动测试系统，所述上位机用于设置测试流程及参数，监测系统的工作状态，记录相关数据，绘制数据曲线；所述测试主控板用于连接FPGA、GPS接收机，实现频率测试和温度补偿测试的算法，接收相关的信号作为测试基准；所述数字控制高精度恒温槽用于测试过程提供准确稳定的环境温度，并及时将测定的数据反馈给上位机，由上位机进行记录和分析。本发明具有自动化和智能化的特征，能够自动测试在不同温度下高精度数字温补晶振信号与标准值之间的差值，自动拟合压控温度曲线烧录至高精度数字温补晶振中进行二次补偿，在大批量高精度数字温补晶振的生产中具有重大意义。 | ||
| 搜索关键词： | 温补晶振 高精度数字 上位机 自动测试系统 高精度恒温槽 温度补偿测试 测试过程 测试基准 测试流程 二次补偿 绘制数据 监测系统 频率测试 数据反馈 数字控制 温度曲线 重大意义 自动测试 智能化 主控板 记录 拟合 烧录 算法 自动化 测试 分析 生产 | ||
【主权项】：
1.一种数字温补晶振自动测试系统，包括：上位机、测试主控板、数字控制高精度恒温槽，其特征在于：所述上位机用于设置测试流程及参数，监测系统的工作状态，记录相关数据，绘制数据曲线；所述测试主控板用于连接FPGA、GPS接收机，实现频率测试和温度补偿测试的算法，接收相关的信号作为测试基准；所述数字控制高精度恒温槽用于测试过程提供准确稳定的环境温度，并及时将测定的数据反馈给上位机，由上位机进行记录和分析。
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