[发明专利]一种电离辐射检测方法和传感器有效
| 申请号： | 201811149968.5 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109239756B | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 魏飞;白云祥;张如范;张申力;岳鸿杰 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01T1/16 | 分类号： | G01T1/16 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 李世喆 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电离辐射检测方法和传感器，该电离辐射检测方法包括：在基底上设置狭缝，超长碳纳米管通过范德华力粘附在所述基底表面，其中，所述超长碳纳米管跨越所述狭缝；通过自组装方式，在跨越所述狭缝的所述超长碳纳米管上生长纳米颗粒；将粘附在所述基底上的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管置于待检测空间中；通过光学显微镜观测跨越所述狭缝的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管，如果观测到跨越所述狭缝的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管发生断裂，则确定所述待检测空间具有电离辐射。本发明提供的方案有效地提高电离辐射检测的灵敏性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电离辐射 检测 方法 传感器 | ||
【主权项】：
1.一种电离辐射检测方法，其特征在于，包括：在基底上设置狭缝，超长碳纳米管通过范德华力粘附在所述基底表面，其中，所述超长碳纳米管跨越所述狭缝；通过自组装方式，在跨越所述狭缝的所述超长碳纳米管上生长纳米颗粒；将粘附在所述基底上的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管置于待检测空间中；通过光学显微镜观测跨越所述狭缝的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管，如果观测到跨越所述狭缝的具有所述纳米颗粒的超长碳纳米管发生断裂，则确定所述待检测空间具有电离辐射。
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