[发明专利]离子阱和质量分析设备有效

专利信息
申请号: 201811150739.5 申请日: 2018-09-29
公开(公告)号: CN109585257B 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: R·吉尔斯;M·C·吉尔 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: H01J49/42 分类号: H01J49/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 离子阱和质量分析设备包括具有沿轴线连续定位的多个区段的分段电极结构,各区段包括围绕轴线配置的多个电极。第一电压以径向约束模式操作,属于各区段的电极被供给AC电压波形以提供用于将离子径向约束在该区段内的约束电场。第二电压以俘获模式操作,属于这些区段的电极被供给不同的DC电压以提供具有轴向变化分布的俘获电场用于将离子推向并将离子俘获在多个区段中的目标片段中。第一子集的区段位于第一腔室内。第二子集的区段位于第二腔室内,目标区段是第二子集的区段之一。气体泵将气体从第二腔室泵出,以提供与第一腔室相比低的气体压力。气流限制部位于第一和第二腔室之间,允许离子从第一向第二腔室传递,限制从第一向第二腔室的气流。
搜索关键词: 离子 质量 分析 设备
【主权项】:
1.一种离子阱,具有:分段电极结构,其具有沿着轴线连续定位的多个区段,其中所述分段电极结构的各区段包括围绕所述轴线配置的多个电极;第一电压供应,其被配置为以径向约束模式操作,在所述径向约束模式中,属于各区段的至少一些电极被供给有至少一个AC电压波形,以提供用于将离子径向约束在该区段内的约束电场;第二电压供应,其被配置为以俘获模式操作,在所述俘获模式中,属于所述区段的至少一些电极被供给不同的DC电压,以提供具有轴向变化的分布的俘获电场,所述俘获电场用于将离子推向并将离子俘获在多个区段中的目标区段中;第一腔室,其被配置为从离子源接收离子,其中所述区段的第一子集位于所述第一腔室内;第二腔室,其被配置为从所述第一腔室接收离子,其中所述区段的第二子集位于所述第二腔室内,以及其中所述目标区段是所述区段的第二子集中的一个区段;气体泵,其被配置为将气体从所述第二腔室泵送出,以向所述第二腔室提供与所述第一腔室相比更低的气体压力;以及气体流动限制部,其位于所述第一腔室和所述第二腔室之间,其中所述气体流动限制部被配置为允许离子从所述第一腔室传递到所述第二腔室,同时限制从所述第一腔室向所述第二腔室的气体流动。
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