[发明专利]金属多孔质体中的树脂材料的残留量测定方法有效

专利信息
申请号: 201811152008.4 申请日: 2018-09-29
公开(公告)号: CN109655486B 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 若桑木绵 申请(专利权)人: 本田技研工业株式会社
主分类号: G01N25/22 分类号: G01N25/22
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营;高伟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种金属多孔质体中的树脂材料的残留量测定方法。首先,使用树脂材料的含有量已知且含有量彼此不同的多个金属树脂含有层(24),进行差示热分析。求出此时在同一温度出现的试样峰值的高度,并求出树脂材料的含有量与试样峰值的高度的相关关系。然后,使用金属多孔质体(10)进行差示热分析,求出与求出所述相关关系时在同一温度出现的峰值的高度。基于该峰值的高度与所述相关关系求出金属多孔质体(10)中的树脂材料的残留量。根据本发明,能够对金属多孔质体中的树脂材料的残留量简便地进行定量分析。
搜索关键词: 金属 多孔 质体 中的 树脂 材料 残留 测定 方法
【主权项】:
1.一种金属多孔质体(10)中的树脂材料的残留量测定方法,所述金属多孔质体(10)是,在形成含有金属材料和比该金属材料熔点低的树脂材料的金属树脂含有层(24)之后,通过从所述金属树脂含有层(24)去除所述树脂材料而形成的,所述残留量测定方法是求得所述金属多孔质体(10)中的所述树脂材料的残留量的方法,其特征在于,具有:第一热分析工序,使用树脂材料的含有量已知且含有量彼此不同的多个金属树脂含有层(24),进行差示热分析;求相关关系工序,求出在所述第一热分析工序中在同一温度出现的试样峰值的高度,并求出所述树脂材料的含有量与所述试样峰值的高度的相关关系;第二热分析工序,使用树脂材料的含有量未知的所述金属多孔质体(10)进行差示热分析;和残留量测定工序,求出在所述第二热分析工序中与在所述求相关关系工序中求出所述相关关系时在同一温度出现的峰值的高度,基于所述峰值的高度与所述相关关系求出所述金属多孔质体(10)中的树脂材料的残留量。
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