[发明专利]半导体装置分拣系统及半导体装置在审
| 申请号： | 201811152212.6 | 申请日： | 2018-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN109604191A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 横山脩平;长谷川真纪;中村宏之;森茂;岩上彻 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | B07C5/344 | 分类号： | B07C5/344;B07C5/34 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 目的在于提供能够使半导体装置具有表示多个电气特性的信息的技术。半导体装置分拣系统(10)具有：特性测定部(4)，其对半导体装置(1)的电气特性进行测定；等级判别数据库(2)，其用于将电气特性分类成等级；运算部(3)，其将由特性测定部(4)测定出的半导体装置(1)的多个电气特性参照等级判别数据库(2)分别分类成多个等级；写入部(5)，其将由运算部(3)分类出的多个等级变换成图形符号代码，将该图形符号代码形成于半导体装置(1)；读取部(6)，其从形成于半导体装置(1)的图形符号代码读取多个等级；以及分拣部(7)，其基于由读取部(6)读取到的多个等级而对半导体装置(1)进行分拣。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体装置 电气特性 读取 图形符号 特性测定部 等级判别 分拣系统 运算部 分拣 分类 数据库 代码读取 等级变换 写入部 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置分拣系统，其具有：特性测定部，其对半导体装置的电气特性进行测定；等级判别数据库，其用于将所述电气特性分类成等级；运算部，其将由所述特性测定部测定出的所述半导体装置的多个所述电气特性参照所述等级判别数据库分别分类成多个等级；写入部，其将由所述运算部分类出的多个等级变换成图形或符号代码，将该图形或符号代码形成于所述半导体装置；读取部，其从形成于所述半导体装置的所述图形或符号代码读取多个等级；以及分拣部，其基于由所述读取部读取到的多个等级而对所述半导体装置进行分拣。
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