[发明专利]GaN基横向超结器件及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201811153660.8 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN110970499B 公开(公告)日: 2023-09-15
发明(设计)人: 张晓东;张辉;张佩佩;于国浩;张宝顺 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王锋;赵世发
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种GaN基横向超结器件及其制作方法。所述横向超结器件包括异质结以及与异质结配合的源极、漏极和栅极,异质结包含第一半导体和第二半导体,第二半导体形成在第一半导体上,异质结中形成有二维电子气,源极与漏极通过二维电子气电连接;GaN基横向超结器件还包括复数个间隔设置的P型半导体,P型半导体分布在栅极下方;P型半导体形成于第一半导体上,且源极或漏极与P型半导体连接或不连接,或者,P型半导体形成于第二半导体上,且在相邻两个P型半导体之间以及在所述P型半导体与源极或漏极中的任意一者之间还形成有高阻半导体。本发明提供的GaN基横向超结器件,击穿电压高、比导通电阻小;制作工艺简单,重复性好。
搜索关键词: gan 横向 器件 及其 制作方法
【主权项】:
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