[发明专利]一种研磨、抛光机定盘平坦度的测试方法在审
申请号: | 201811155570.2 | 申请日: | 2018-09-30 |
公开(公告)号: | CN109029306A | 公开(公告)日: | 2018-12-18 |
发明(设计)人: | 王鸣;贺贤汉 | 申请(专利权)人: | 杭州中芯晶圆半导体股份有限公司;上海申和热磁电子有限公司 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 上海顺华专利代理有限责任公司 31203 | 代理人: | 顾兰芳 |
地址: | 310000 浙江省杭州市萧山区*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种研磨、抛光机定盘平坦度的测试方法,包括:步骤一,采用一种用于定盘平坦度的测试装置进行测试,测试装置包括底座、支架、激光位移传感器、传感器位置控制系统、丝杆伺服机构、丝杆、导轨、计算机、处理软件和被测试的定盘;步骤二,调整支架高度,使激光位移传感器至定盘表面的距离4mm‑6mm;步骤三,调节激光位移传感器至定盘边缘,并设置此位置为R轴原点;步骤四,设置控制装置的采样速率、激光位移传感器横向移动速率和行程,并输入定盘转速;步骤五,设置定盘转速并启动定盘,待转速稳定之后启动装置开始采样;步骤六,待激光位移传感器移动至指定行程后,测试结束,数据结果包含每一个点的位置信息及相应高度值(R,θ,z)。 | ||
搜索关键词: | 定盘 激光位移传感器 测试 平坦度 测试装置 研磨 抛光机 采样 丝杆 传感器位置控制 设置控制装置 原点 处理软件 调整支架 启动装置 数据结果 伺服机构 转速稳定 速率和 导轨 底座 支架 计算机 移动 | ||
【主权项】:
1.一种研磨、抛光机定盘平坦度的测试方法,其特征在于,包括:步骤一,采用一种用于定盘平坦度的测试装置进行测试,所述测试装置包括底座、支架、激光位移传感器、传感器位置控制系统、丝杆伺服机构、丝杆、导轨、计算机、处理软件和被测试的定盘;步骤二,调整支架高度,使激光位移传感器至定盘表面的距离4mm‑6mm;步骤三,调节激光位移传感器至定盘边缘,并设置此位置为R轴原点;步骤四,设置控制装置的采样速率、激光位移传感器横向移动速率和行程,并输入定盘转速;步骤五,设置定盘转速并启动定盘,待转速稳定之后启动装置开始采样;步骤六,待激光位移传感器移动至指定行程后,测试结束,数据结果包含每一个点的位置信息及相应高度值(R,θ,z),并以Excel形式存储数据。
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