[发明专利]一种基于PHEMT的霍尔电阻的制作方法有效

专利信息
申请号: 201811155829.3 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN109616570B 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 魏丹珠;孙希国;魏鸿基;蔡文必 申请(专利权)人: 厦门市三安集成电路有限公司
主分类号: H01L43/14 分类号: H01L43/14
代理公司: 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 代理人: 李雁翔;张迪
地址: 361000 福建省厦门*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供了基于PHEMT的霍尔电阻的制作方法:1)准备由层叠设置的基层、沟道层和帽层组成的外延层;2)在帽层上沉积一层SiN;3)在欧姆合金的位置上将光阻打开,对SiN层和帽层进行蚀刻;5)在光阻打开的位置对沟道层注入Si;6)光阻剥离;接着整体再覆盖一层SiN;7)在需要隔断的区域打开光阻,帽进行离子注入,离子注入后光阻剥离;将Si注入区域的光阻打开,蚀刻掉SiSiN,蒸镀欧姆合金金属;蒸镀后剥离光阻;8)整体再覆盖第三SiN层,将欧姆合金顶部的光阻打开;蚀刻合金顶部的SiSiN,形成via孔;9)在Via上蒸镀金属;10)整体沉积SiSiN,作为顶部钝化层,在pad上开孔作为输入/输出端。
搜索关键词: 一种 基于 phemt 霍尔 电阻 制作方法
【主权项】:
1.一种基于PHEMT的霍尔电阻的制作方法,其特征在于包括如下步骤:1)准备外延层,所述外延层具有层叠设置的基层、沟道层和帽层,所述沟道层和帽层没有掺杂;2)在帽层上沉积一层SiN;3)在SiN层上覆盖光阻,通过黄光工艺,在即将做欧姆合金的位置,打开光阻;4)在光阻打开的区域将SiN层和帽层进行蚀刻,从而将沟道层暴露在开孔中;5)对沟道层注入Si;6)注入Si后,剥离光阻,整体覆盖一层SiN,形成第二SiN层,高温退火;7)将需要隔断的区域帽进行离子注入;8)通过黄光工艺,将Si注入区域的光阻打开;9)将光阻打开区域的SiSiN蚀刻掉;10)蒸镀欧姆合金金属,剥离光阻,回火形成欧姆合金;11)整体覆盖第三SiN层,将欧姆合金顶部的SiSiN蚀刻掉,形成Via孔;12)在Via孔上蒸镀金属做金属连线;13)整体做顶层钝化,在pad上开孔作为输入/输出端。
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