[发明专利]一种光刻机光点错位扫描时序调整系统及其调整方法在审

专利信息
申请号: 201811156719.9 申请日: 2018-09-30
公开(公告)号: CN110967929A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 王泽明;郑天祥;邓超略;高尊虎;黄文斌 申请(专利权)人: 深圳市印之明科技有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 代理人: 刘汉民
地址: 518000 广东省深圳市宝安区西乡*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 在本发明提供一种光刻机光点错位扫描时序调整系统及其调整方法,MCU按每一条可编程延迟线所处的电路位置和通过的相应光点信号,可获取每一条可编程延迟线的延时需求;并下达对应的控制指令到每一条可编程延迟线,每一条可编程延迟线根据MCU的控制指令可以适时地改变延迟参数,既可满足光刻的逻辑时序要求,相对传统技术采用FPGA光点错位时序调整,本发明结构简便,操作简单而且成本更低。
搜索关键词: 一种 光刻 机光点 错位 扫描 时序 调整 系统 及其 方法
【主权项】:
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