[发明专利]一种光刻机光点错位扫描时序调整系统及其调整方法在审
申请号: | 201811156719.9 | 申请日: | 2018-09-30 |
公开(公告)号: | CN110967929A | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 王泽明;郑天祥;邓超略;高尊虎;黄文斌 | 申请(专利权)人: | 深圳市印之明科技有限公司 |
主分类号: | G03F7/20 | 分类号: | G03F7/20 |
代理公司: | 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) 44251 | 代理人: | 刘汉民 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区西乡*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在本发明提供一种光刻机光点错位扫描时序调整系统及其调整方法,MCU按每一条可编程延迟线所处的电路位置和通过的相应光点信号,可获取每一条可编程延迟线的延时需求;并下达对应的控制指令到每一条可编程延迟线,每一条可编程延迟线根据MCU的控制指令可以适时地改变延迟参数,既可满足光刻的逻辑时序要求,相对传统技术采用FPGA光点错位时序调整,本发明结构简便,操作简单而且成本更低。 | ||
搜索关键词: | 一种 光刻 机光点 错位 扫描 时序 调整 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市印之明科技有限公司,未经深圳市印之明科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811156719.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。