[发明专利]一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置及方法在审
| 申请号： | 201811171111.3 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN109254012A | 公开（公告）日： | 2019-01-22 |
| 发明（设计）人： | 张志杰;董宁琛;尹武良;李岩峰 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01 |
| 代理公司： | 太原新航路知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14112 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 030051 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及金属表面缺陷检测技术，具体是一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置及方法。本发明解决了现有金属表面缺陷检测技术操作难度高、单次检测面积小、危害操作人员健康、检测成本高、检测速度慢、适用范围受限、检测结果不准确的问题。一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置，包括被测金属工件、十字滑台、半导体激光器、平凹透镜、平凸透镜、计算机、信号发生器、红外热像仪；其中，半导体激光器的输出端与被测金属工件表面的待检测区域之间设有由平凹透镜、平凸透镜依次串接而成的激光扩束光路。本发明适用于金属表面缺陷检测。 | ||
| 搜索关键词： | 金属表面缺陷 半导体激光器 检测装置 检测技术 平凹透镜 平凸透镜 检测 金属工件表面 待检测区域 红外热像仪 信号发生器 单次检测 范围受限 激光扩束 检测结果 金属工件 人员健康 十字滑台 依次串接 输出端 光路 计算机 | ||
【主权项】：
1.一种基于半导体激光器的金属表面缺陷检测装置，其特征在于：包括被测金属工件（1）、十字滑台（2）、半导体激光器（3）、平凹透镜（4）、平凸透镜（5）、计算机（6）、信号发生器（7）、红外热像仪（8）；其中，半导体激光器（3）的输出端与被测金属工件（1）表面的待检测区域之间设有由平凹透镜（4）、平凸透镜（5）依次串接而成的激光扩束光路；半导体激光器（3）的输出端正对平凹透镜（4）的入射端；平凹透镜（4）的轴线与平凸透镜（5）的轴线重合，且平凹透镜（4）位于平凸透镜（5）的焦点位置；平凸透镜（5）的出射端正对被测金属工件（1）表面的待检测区域；半导体激光器（3）、平凹透镜（4）、平凸透镜（5）均安装于十字滑台（2）的台面上；计算机（6）的信号输出端、信号发生器（7）的信号输出端均与半导体激光器（3）的信号输入端连接；红外热像仪（8）的探测端朝向被测金属工件（1）表面的待检测区域；红外热像仪（8）的信号输出端与计算机（6）的信号输入端连接。
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