[发明专利]系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法有效
| 申请号： | 201811171261.4 | 申请日： | 2018-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN111025132B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 林宜学;刘佳旻 | 申请（专利权）人： | 瑞昱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3167 | 分类号： | G01R31/3167 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 梁丽超;田喜庆 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种系统芯片、以及其内建自我测试电路与自我测试方法。该系统芯片包含一模拟前端电路、一数字实体层电路以及一内建自我测试电路。该数字实体层电路耦接至该模拟前端电路，且该内建自我测试电路耦接至该数字实体层电路并且用来借助于该数字实体层电路对该模拟前端电路进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 芯片 以及 其内 自我 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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