[发明专利]一种印章校准方法、装置、印控仪及存储介质有效
| 申请号： | 201811171560.8 | 申请日： | 2018-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN109345577B | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 韩卫兵 | 申请（专利权）人： | 北京惠朗时代科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33;G06T7/73 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 100000 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种印章校准方法、装置、印控仪及存储介质，属于数据应用技术领域。该印章校准方法，应用于印控仪中的印章管理设备，所述印控仪还包括：图像采集装置以及多个印章头，所述方法包括：接收用户发起的校准指令；根据预设校准规则对所述多个印章头中的每个所述印章头分别进行校准。该方法根据预设校准规则对所述多个印章头中的每个所述印章头分别进行校准，解决了只针对一枚印章进行一键校准时，有时候由于硬件设备会存在一定的误差，所以会造成个别印章校准有误差的问题，提高了校准精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 印章 校准 方法 装置 印控仪 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种印章校准方法，其特征在于，应用于印控仪中的印章管理设备，所述印控仪还包括：图像采集装置以及多个印章头，所述方法包括：接收用户发起的校准指令；根据预设校准规则对所述多个印章头中的每个所述印章头分别进行校准。
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