[发明专利]三维测量装置、三维测量方法以及存储介质有效

专利信息
申请号: 201811178513.6 申请日: 2018-10-10
公开(公告)号: CN109751973B 公开(公告)日: 2020-12-11
发明(设计)人: 付星斗;诹访正树 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 玉昌峰;李罡
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种三维测量装置、三维测量方法以及存储介质,测量对象物的三维点群数据的再现性和图像的清晰度比现有技术高。对于测量对象物投影具有混合图案(Ph)的图案光进行三维测量。混合图案(Ph)是在结构光图案(Ps)上重叠不规则图案(Pr)而形成的图案,并以不规则图案(Pr)与结构光图案(Ps)不会相互干涉的方式配置图案。由此,能够享受在图像清晰度这一点上优异的结构光图案、和在三维点群数据的再现性这一点上优异的不规则图案两者的优点。
搜索关键词: 三维 测量 装置 测量方法 以及 存储 介质
【主权项】:
1.一种三维测量装置,用于测量测量对象物的三维形状,所述三维测量装置具备:投影部,对所述测量对象物投影混合图案的图案光,所述混合图案是将二维编码图案和不规则图案以不会引起图案相互干涉的方式进行配置而形成的图案,所述二维编码图案是将能够相互区别的多种字呈二维状地进行配置而形成的图案,所述不规则图案是将分别能够唯一确定的多个不规则片不规则地进行配置而形成的图案;拍摄部,具备对被投影了所述图案光的所述测量对象物进行拍摄的第一照相机和第二照相机;图案存储部,用于存储所述二维编码图案;第一计算部,从通过所述第一照相机或所述第二照相机拍摄的拍摄图像选择对象像素,并针对所选择的各个所述对象像素而提取该像素上显现的图案光的字,根据提取出的所述字和存储在所述图案存储部中的所述二维编码图案求出各个所述对象像素的三维位置;以及第二计算部,在将通过所述第一照相机和所述第二照相机拍摄的拍摄图像中的一方拍摄图像作为基准图像、将另一方拍摄图像作为比较图像的情况下,从所述基准图像提取出与各个所述不规则片对应的各特征点,并使用提取出的各个所述特征点进行相对于所述比较图像的立体匹配,根据立体匹配结果求出各个所述特征点的三维位置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于欧姆龙株式会社,未经欧姆龙株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201811178513.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top